Normal view
MARC view
Учебное пособие по дисциплине "Экспериментальные методы исследования и основы метрологии нанообъектов" [по направлению 210100 "Электроника и наноэлектроника"] Э. А. Ильичев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Моск. гос. ин-т электрон. техники (техн. ун-т)
Material type:
TextLanguage: Russian Series: Учебно-методический комплекс для бакалавров. Направление "Наноэлектроника"Publication details: Москва МИЭТ 2011Description: 255 с. ил. 21 смISBN: 9785725606584Subject(s): учебные пособия для вузов | нанообъекты | метрология | эталоны физических величин | измерение наноразмерных перемещений | измерение наноразмерных длин | измерительные системы | элементарная теория ошибок | флуктуационные процессы | пучковые методы исследований | измерения физических параметров
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-998713к (Browse shelf(Opens below)) | Available | 13820000792258 |
Библиогр.: с. 249-251
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.