Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Учебное пособие по дисциплине "Экспериментальные методы исследования и основы метрологии нанообъектов" (Record no. 483663)

MARC details
000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 02321cam a2200397 i 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000416943
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210922112229.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 120830s2011 ru a b 000 0 rus|d
020 ## - Индекс ISBN
ISBN 9785725606584
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер 005041657
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RuMoRKP
Код языка каталог. rus
Организация, изменившая запись RuMoRGB
-- RU-ToGU
041 0# - Код языка издания
Код языка текста rus
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 621.38-022.532:006.915(075.8)
100 1# - Автор
Автор Ильичев, Эдуард Анатольевич
9 (RLIN) 86390
245 10 - Заглавие
Заглавие Учебное пособие по дисциплине "Экспериментальные методы исследования и основы метрологии нанообъектов"
Продолж. заглавия [по направлению 210100 "Электроника и наноэлектроника"]
Ответственность Э. А. Ильичев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Моск. гос. ин-т электрон. техники (техн. ун-т)
260 ## - Выходные данные
Место издания Москва
Издательство МИЭТ
Дата издания 2011
300 ## - Физическое описание
Объем 255 с.
Иллюстрации/тип воспроизводства ил.
Размеры 21 см.
490 10 - Серия
Заглавие серии Учебно-методический комплекс для бакалавров. Направление "Наноэлектроника"
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: с. 249-251
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова учебные пособия для вузов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова нанообъекты
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова метрология
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова эталоны физических величин
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова измерение наноразмерных перемещений
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова измерение наноразмерных длин
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова измерительные системы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова элементарная теория ошибок
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова флуктуационные процессы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова пучковые методы исследований
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова измерения физических параметров
830 ## - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие
Унифицированное заглавие Учебно-методический комплекс для бакалавров. Направление "Наноэлектроника"
9 (RLIN) 260617
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
Полочный индекс 621.3
Авторский знак У912
Код страны ru
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных учебник
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 483663
Holdings
Не выдается Отсутствует на месте Поврежден Исходное место хранения Местоположение Дата поступления Цена Всего выдач Расстановочный шифр Штрих-код Класс экземпляра
      Научная библиотека ТГУ Книгохранилище 05/04/2021 270.00   1-998713к 13820000792258 Выдается в читальный зал