Normal view
MARC view
Учебное пособие по дисциплине "Экспериментальные методы исследования и основы метрологии нанообъектов" (Record no. 483663)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 02321cam a2200397 i 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000416943 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20210922112229.0 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 120830s2011 ru a b 000 0 rus|d |
020 ## - Индекс ISBN | |
ISBN | 9785725606584 |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | 005041657 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RuMoRKP |
Код языка каталог. | rus |
Организация, изменившая запись | RuMoRGB |
-- | RU-ToGU |
041 0# - Код языка издания | |
Код языка текста | rus |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 621.38-022.532:006.915(075.8) |
100 1# - Автор | |
Автор | Ильичев, Эдуард Анатольевич |
9 (RLIN) | 86390 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Учебное пособие по дисциплине "Экспериментальные методы исследования и основы метрологии нанообъектов" |
Продолж. заглавия | [по направлению 210100 "Электроника и наноэлектроника"] |
Ответственность | Э. А. Ильичев ; М-во образования и науки Рос. Федерации, Моск. гос. ин-т электрон. техники (техн. ун-т) |
260 ## - Выходные данные | |
Место издания | Москва |
Издательство | МИЭТ |
Дата издания | 2011 |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | 255 с. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
Размеры | 21 см. |
490 10 - Серия | |
Заглавие серии | Учебно-методический комплекс для бакалавров. Направление "Наноэлектроника" |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Библиогр.: с. 249-251 |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | учебные пособия для вузов |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | нанообъекты |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | метрология |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | эталоны физических величин |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | измерение наноразмерных перемещений |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | измерение наноразмерных длин |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | измерительные системы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | элементарная теория ошибок |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | флуктуационные процессы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | пучковые методы исследований |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | измерения физических параметров |
830 ## - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие | |
Унифицированное заглавие | Учебно-методический комплекс для бакалавров. Направление "Наноэлектроника" |
9 (RLIN) | 260617 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
Полочный индекс | 621.3 |
Авторский знак | У912 |
Код страны | ru |
908 ## - Параметр входа данных | |
Параметр входа данных | учебник |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 483663 |
Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 05/04/2021 | 270.00 | 1-998713к | 13820000792258 | Выдается в читальный зал |