Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        


База знаний по целевым капиталам

  •    Эндаумент
       Фандрайзинг
       Нормативные документы

  • Your search returned 2 results.

    Sort
    Results
    1.
    2.
    Физические основы метрологии полупроводниковых фотоматериалов и тестирование сложных соединений на основе арсенида галлия А. В. Юрченко, В. И. Юрченко

    by Юрченко, Алексей Васильевич | Юрченко, Василий Иванович.

    Source: Материалы седьмой российской конференции "Арсенид галлия" "GaAs-99", Томск, 21-23 октября, 1999 г. : посвящается 35-летию ФГУП "НИИППMaterial type: Article Article; Format: print ; Literary form: Not fiction ; Audience: Specialized; Availability: No items available :
    Pages