Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Image from Google Jackets
Normal view MARC view

Физические основы метрологии полупроводниковых фотоматериалов и тестирование сложных соединений на основе арсенида галлия А. В. Юрченко, В. И. Юрченко

By: Юрченко, Алексей ВасильевичContributor(s): Юрченко, Василий ИвановичMaterial type: ArticleArticleSubject(s): арсенид галлия | полупроводниковое материалы | солнечные элементы | метрология фотоматериалов | труды ученых ТГУ In: Материалы седьмой российской конференции "Арсенид галлия" "GaAs-99", Томск, 21-23 октября, 1999 г. : посвящается 35-летию ФГУП "НИИПП С. 60-61
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 1 назв.

There are no comments on this title.

to post a comment.