Normal view
MARC view
Физические основы метрологии полупроводниковых фотоматериалов и тестирование сложных соединений на основе арсенида галлия А. В. Юрченко, В. И. Юрченко
Material type: ArticleSubject(s): арсенид галлия | полупроводниковое материалы | солнечные элементы | метрология фотоматериалов | труды ученых ТГУ In: Материалы седьмой российской конференции "Арсенид галлия" "GaAs-99", Томск, 21-23 октября, 1999 г. : посвящается 35-летию ФГУП "НИИПП С. 60-61No physical items for this record
Библиогр.: 1 назв.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.