Refine your search
Availability
-
bib-level
- m (4)
-
Authors
-
Locations
-
Item types
- 1 месяц (1)
- 1 неделя (1)
- Выдается в читальный зал (3)
- Выдается по месту хранения (1)
-
Topics
- TEM, просвечивающая электронная микроскопия (1)
- XRD, рентгеновская дифрактометрия (1)
- Бравэ решетки (1)
- Гюйгенса принцип (1)
- ДРФ-2,0, дифрактометр (1)
- Дифрактометрия (1)
- Лауэ дифракция (1)
- Паттерсона функции (1)
- УРС-50И, дифрактометр (1)
- Фурье метод (1)
- Эвальда сфера (1)
- Электронная микроскопия просвечивающая (1)
- атомные форм-факторы (1)
- гониометры (1)
- детекторы рентгеновского излучения (1)
- дифрактометры рентгеновские (3)
- монокристаллы (2)
- рентгеновские лучи (3)
- рентгеноструктурный анализ (2)
- учебные издания для вузов (2)
- Show more
- Show less