Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Image from Google Jackets
Normal view MARC view

Рентгенографический и электроннооптический анализ практическое руководство по рентгенографии, электронографии и электронной микроскопии металлов, полупроводников и диэлектриков : [учебное пособие для вузов] С. С. Горелик, Ю. А. Скаков, Л. Н. Расторгуев

By: Горелик, Семен СамуиловичContributor(s): Скаков, Юрий Александрович | Расторгуев, Леонид НиколаевичMaterial type: TextTextPublication details: Москва Металлургия 1970Edition: Изд. 2-е, испр. и допDescription: 366, [2] с. илSubject(s): учебные издания для вузов | рентгеноструктурный анализ | электроннооптический анализ | электронография | электронная микроскопия | микродифракция | спектральный анализ | рентгеновская техника | дифрактометры рентгеновские | поликристаллы | монокристаллы | рентгенограммы кристаллов | микрорентгенография дифракционная | кристаллография структурнаяOther classification: 47.29.39
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Holdings
Item type Current library Call number Copy number Status Date due Barcode
Выдается в читальный зал Научная библиотека ТГУ Книгохранилище 1-013962к (Browse shelf(Opens below)) Available 13820000708802
1 месяц Научная библиотека ТГУ Читальный зал. Депозитарий 66 Г687 (Browse shelf(Opens below)) 1 Available 13820000091875
1 неделя Научная библиотека ТГУ Читальный зал 5 66 Г687 (Browse shelf(Opens below)) 2 Ветхий 13820000386112

Библиогр.: с. 352 и в конце частей

There are no comments on this title.

to post a comment.