Normal view
MARC view
Точечные дефекты в полупроводниках экспериментальные аспекты Ж. Бургуэн, М. Ланно ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина [и др.] ; под ред. В. Л. Гуревича
Material type: TextPublication details: Москва Мир 1985Description: 304 с. илOther title: Point Defects in Semiconductors [Parallel title]Subject(s): полупроводники | дефекты точечные | Яна-Теллера эффект | электронный парамагнитный резонанс | оптические свойства полупроводников | генерация носителей тока | регенерация носителей тока | электрические свойства полупроводников | фотовозбуждение полупроводников | взаимодействие излучения с твердым телом | отжиг дефектов полупроводников | кристаллические решетки полупроводников | туннельные состояния двухуровневые | проводимость полупроводников | взаимодействие дефектов полупроводников | примесные центры полупроводниковOther classification: 539.219.1:538.91Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|
Выдается в читальный зал | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-598264к (Browse shelf(Opens below)) | Available | 13820000783283 | ||
1 месяц | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-589250 (Browse shelf(Opens below)) | Available | 13820000783284 |
Библиогр.: с. 9, 289-297
Предм. указ.: с. 298-300
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.