Normal view
MARC view
Точечные дефекты в полупроводниках (Record no. 307377)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 02335nam a2200457 i 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000417865 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20210925163915.0 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 111212s1985 ru a f b 001 0 rus d |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | to000417865 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | rus |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 537.311.322:548.4 |
084 ## - Индекс другой классификации/Индекс ББК | |
Индекс другой классификации/Индекс ББК | 539.219.1:538.91 |
100 1# - Автор | |
Автор | Бургуэн, Жак. |
9 (RLIN) | 180879 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Точечные дефекты в полупроводниках |
Продолж. заглавия | экспериментальные аспекты |
Ответственность | Ж. Бургуэн, М. Ланно ; пер. с англ. Ю. М. Гальперина [и др.] ; под ред. В. Л. Гуревича |
246 11 - Заглавие тома/части | |
Заглавие тома/части | Point Defects in Semiconductors |
260 ## - Выходные данные | |
Место издания | Москва |
Издательство | Мир |
Дата издания | 1985 |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | 304 с. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Библиогр.: с. 9, 289-297 |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Предм. указ.: с. 298-300 |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | полупроводники |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | дефекты точечные |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | Яна-Теллера эффект |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электронный парамагнитный резонанс |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | оптические свойства полупроводников |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | генерация носителей тока |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | регенерация носителей тока |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электрические свойства полупроводников |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | фотовозбуждение полупроводников |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | взаимодействие излучения с твердым телом |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | отжиг дефектов полупроводников |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | кристаллические решетки полупроводников |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | туннельные состояния двухуровневые |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | проводимость полупроводников |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | взаимодействие дефектов полупроводников |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | примесные центры полупроводников |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Ланно, Мишель. |
9 (RLIN) | 180878 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Гуревич, В. Л. |
Код отношения | edt |
9 (RLIN) | 172190 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
Полочный индекс | 537 |
Авторский знак | Б912 |
Код страны | ru |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 307377 |
Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 04/04/2021 | 2.70 | 1-598264к | 13820000783283 | Выдается в читальный зал | ||||
Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 04/04/2021 | 2.70 | 1-589250 | 13820000783284 | 1 месяц |