Normal view
MARC view
Воздействие радиации на интегральные микросхемы Ф. П. Коршунов, Ю. В. Богатырев, В. А. Вавилов ; Акад. наук БССР, Ин-т физики твердого тела и полупроводников
Material type: TextPublication details: Минск Наука и техника 1986Description: 253, [1] с. рис., таблSubject(s): микроэлектронные схемы интегральные | ионизирующие излучения | радиационные дефекты | смещение атомов | твердые тела | кремний | арсенид галлия | интегральные микросхемы биполярные | МДП-транзисторы | МДП интегральные микросхемы | радиационная стойкость | проникающие излучения | легирование полупроводников ядерное | диффузия в полупроводниках | технология полупроводниковых приборов | технология интегральных микросхем | литографияItem type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|
Выдается в читальный зал | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-595128к (Browse shelf(Opens below)) | Available | 13820000641946 | ||
1 месяц | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-605981 (Browse shelf(Opens below)) | Available | 13820000635599 |
Библиогр.: с. 233-248
Предм. указ.: с. 249-250
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.