Normal view
MARC view
Воздействие радиации на интегральные микросхемы (Record no. 519195)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 02275nam a2200445 i 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000242259 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20210910080559.0 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 080314s1986 bw a f b 001 0 rus d |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000242259 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 621.382.049.77:539.1.04 |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Коршунов, Федор Павлович |
| 9 (RLIN) | 542140 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Воздействие радиации на интегральные микросхемы |
| Ответственность | Ф. П. Коршунов, Ю. В. Богатырев, В. А. Вавилов ; Акад. наук БССР, Ин-т физики твердого тела и полупроводников |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Минск |
| Издательство | Наука и техника |
| Дата издания | 1986 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 253, [1] с. |
| Иллюстрации/тип воспроизводства | рис., табл. |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Библиогр.: с. 233-248 |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Предм. указ.: с. 249-250 |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | микроэлектронные схемы интегральные |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | ионизирующие излучения |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | радиационные дефекты |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | смещение атомов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | твердые тела |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | кремний |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | арсенид галлия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | интегральные микросхемы биполярные |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | МДП-транзисторы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | МДП интегральные микросхемы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | радиационная стойкость |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | проникающие излучения |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | легирование полупроводников ядерное |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | диффузия в полупроводниках |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | технология полупроводниковых приборов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | технология интегральных микросхем |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | литография |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Богатырев, Юрий Владимирович. |
| 9 (RLIN) | 542141 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Вавилов, Владимир Алексеевич. |
| 9 (RLIN) | 542142 |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| Код страны | ru |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 519195 |
| Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 05/04/2021 | 2.80 | 1-595128к | 13820000641946 | Выдается в читальный зал | ||||
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 05/04/2021 | 2.80 | 1-605981 | 13820000635599 | 1 месяц |