|
1.
|
Прибор для комплексного метода измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов Н. Ю. Шаронов, А. Г. Левашкин, А. Г. Лапатин, А. И. Башкиров by Левашкин, Андрей Геньевич | Лапатин, Алексей Леонидович | Башкиров, Александр Иванович | Шаронов, Никита Юрьевич. Source: Инноватика - 2019 : сборник материалов XV Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 25-27 апреля 2019 г., г. Томск, РоссияMaterial type: Article; Format:
electronic
available online
; Literary form:
Not fiction
; Audience:
Specialized;
Other title: Instrument for a complex method for measuring the resistivity of semiconductor materials.Online access: Click here to access online Availability: No items available :
|
|
2.
|
Прибор для бесконтактного метода измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов Д. С. Репкин, Н. Ю. Шаронов, А. Г. Левашкин [и др.] by Шаронов, Никита Юрьевич | Левашкин, Андрей Геньевич | Мошкина, Мария Дмитриевна | Башкиров, Александр Иванович | Репкин, Дмитрий Сергеевич. Source: Инноватика - 2018 : сборник материалов XIV Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 26-27 апреля 2018 г., г. Томск, РоссияMaterial type: Article; Format:
electronic
available online
; Literary form:
Not fiction
; Audience:
Specialized;
Other title: Instrument for a non-contact method for measuring the resistivity of semiconductor materials.Online access: Click here to access online Availability: No items available :
|