Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Image from Google Jackets
Normal view MARC view

Прибор для комплексного метода измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов Н. Ю. Шаронов, А. Г. Левашкин, А. Г. Лапатин, А. И. Башкиров

Contributor(s): Левашкин, Андрей Геньевич | Лапатин, Алексей Леонидович | Башкиров, Александр Иванович | Шаронов, Никита ЮрьевичMaterial type: ArticleArticleOther title: Instrument for a complex method for measuring the resistivity of semiconductor materials [Parallel title]Subject(s): полупроводниковые материалы | методы измерения | удельное сопротивление | бесконтактные методы | полупроводникиGenre/Form: статьи в сборниках Online resources: Click here to access online In: Инноватика - 2019 : сборник материалов XV Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 25-27 апреля 2019 г., г. Томск, Россия С. 181-185Abstract: The article is devoted to a complex method for measuring the resistivity of semiconductor materials using the resonator and capacitive method as an example. Described the design, functional scheme and principle of operation installation.
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
No physical items for this record

Библиогр.: 4 назв.

The article is devoted to a complex method for measuring the resistivity of semiconductor
materials using the resonator and capacitive method as an example. Described
the design, functional scheme and principle of operation installation.

There are no comments on this title.

to post a comment.