Normal view
MARC view
Прибор для комплексного метода измерения удельного сопротивления полупроводниковых материалов Н. Ю. Шаронов, А. Г. Левашкин, А. Г. Лапатин, А. И. Башкиров
Material type: ArticleOther title: Instrument for a complex method for measuring the resistivity of semiconductor materials [Parallel title]Subject(s): полупроводниковые материалы | методы измерения | удельное сопротивление | бесконтактные методы | полупроводникиGenre/Form: статьи в сборниках Online resources: Click here to access online In: Инноватика - 2019 : сборник материалов XV Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 25-27 апреля 2019 г., г. Томск, Россия С. 181-185Abstract: The article is devoted to a complex method for measuring the resistivity of semiconductor materials using the resonator and capacitive method as an example. Described the design, functional scheme and principle of operation installation.No physical items for this record
Библиогр.: 4 назв.
The article is devoted to a complex method for measuring the resistivity of semiconductor
materials using the resonator and capacitive method as an example. Described
the design, functional scheme and principle of operation installation.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.