Normal view
MARC view
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер; Отв. ред. И. Л. Шульпина
Material type:
TextPublication details: СПб. Наука 2002Description: 273, [2] с.рисISBN: 5020249637Other title: High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography [Parallel title]Subject(s): полупроводниковое материаловедение | электронная техника | рентгеновские дифракционные методы | кристаллы | рентгеновская топография | детекторы | эпитаксиальные слои | тонкие пленки | многослойные системы | синхротронное излучение | компьютерное моделирование | дифрактометрия
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Выдается в читальный зал | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-898189к 548 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | 13820000401354 | ||
| 1 месяц | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-904846 (Browse shelf(Opens below)) | 2 | Available | 13820000430979 | ||
| 1 месяц | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-904847 54 (Browse shelf(Opens below)) | 3 | Available | 13820000430978 |
Библиогр. в конце глав
Предм. указ.: с. 271-273
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.