Normal view
MARC view
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография (Record no. 159767)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 01851nam a2200421 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000159933 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20210909144253.0 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 030120s2002 ru a f bi 001 0 rus d |
| 020 ## - Индекс ISBN | |
| ISBN | 5020249637 |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | 0164-11460 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
| Правила каталог. | PSBO |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 548.73:535.33:681.3 |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 620.22:621.38 |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Боуэн, Д. К. |
| 9 (RLIN) | 230911 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография |
| Ответственность | Д. К. Боуэн, Б. К. Таннер; Отв. ред. И. Л. Шульпина |
| 246 11 - Заглавие тома/части | |
| Заглавие тома/части | High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | СПб. |
| Издательство | Наука |
| Дата издания | 2002 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 273, [2] с.рис. |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Библиогр. в конце глав |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Предм. указ.: с. 271-273 |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | полупроводниковое материаловедение. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | электронная техника. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | рентгеновские дифракционные методы. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | кристаллы. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | рентгеновская топография. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | детекторы. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | эпитаксиальные слои. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | тонкие пленки. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | многослойные системы. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | синхротронное излучение. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | компьютерное моделирование. |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дифрактометрия. |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Таннер, Б. К. |
| 9 (RLIN) | 241781 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Шульпина, И. Л. |
| Код отношения | edt |
| 9 (RLIN) | 241782 |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| Полочный индекс | 1-898189к |
| Авторский знак | 548 |
| Код страны | ru |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 159767 |
| Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Номер копии | Класс экземпляра |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 03/04/2021 | 140.00 | 1-898189к 548 | 13820000401354 | 1 | Выдается в читальный зал | ||||
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 03/04/2021 | 110.00 | 1-904846 | 13820000430979 | 2 | 1 месяц | ||||
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 03/04/2021 | 110.00 | 1-904847 54 | 13820000430978 | 3 | 1 месяц |