Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий методы и применение [Роберт Андерхальт, Поль Анзалоне, П. Роберт Апкариан и др.] ; под ред. Уэйли Жу и Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. С. А. Иванова и К. И. Домкина ; под ред. Т. П. Каминской
Material type:
TextPublication details: Москва БИНОМ. Лаборатория знаний 2016Description: 582 с., [8] л. цв. ил. ил., таблISBN: 9785996311101Other title: Scanning Microscopy for Nanotechnology [Parallel title]Subject(s): растровая электронная микроскопия | растровые электронные микроскопы | получение изображений | нанотехнологии | наноматериалы | исследование наноструктур | дифракция отраженных электронов, метод | рентгеновский микроанализ | моделирование наноматериалов | Монте-Карло метод | растровая электронная микроскопия низковольтная | электронно-лучевая нанолитография | растровая электронная микроскопия просвечивающая | конструирование наноматериалов | наноманипулирование in situ | ионные пучки фокусированные | нанопроволоки полупроводниковые | нанотрубки полупроводниковые | фотонные кристаллы | наночастицы | самосборки коллоидные | полупроводники наноструктурные | 3D коллоидные кристаллы | наноблоки | наноструктуры одномерные | бионаноматериалы | наноструктурные исследования низкотемпературные | растровая электронная микроскопия низкотемпературная
| Item type | Current library | Call number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|
| Выдается по месту хранения | Научная библиотека ТГУ Читальный зал 5 | 621.3 Р245 (Browse shelf(Opens below)) | Available | 13820000936996 |
Авт. указаны на с. 5-8
Библиогр. в конце глав.
Предметный указ.: с. 574-582
Слов. наиболее часто использ. аббревиатур: с. 17-18
There are no comments on this title.