Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий (Record no. 8555)

MARC details
000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 03799nam a2200673 c 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000547486
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20221018081209.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 160922s2016 ru a f b 001 0 rus d
020 ## - Индекс ISBN
ISBN 9785996311101
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000547486
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 621.385.833:620.22-022.532
080 ## - Индекс УДК
Индекс УДК 537.533.35
245 10 - Заглавие
Заглавие Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий
Продолж. заглавия методы и применение
Ответственность [Роберт Андерхальт, Поль Анзалоне, П. Роберт Апкариан и др.] ; под ред. Уэйли Жу и Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. С. А. Иванова и К. И. Домкина ; под ред. Т. П. Каминской
246 11 - Заглавие тома/части
Заглавие тома/части Scanning Microscopy for Nanotechnology
260 ## - Выходные данные
Место издания Москва
Издательство БИНОМ. Лаборатория знаний
Дата издания 2016
300 ## - Физическое описание
Объем 582 с., [8] л. цв. ил.
Иллюстрации/тип воспроизводства ил., табл.
500 ## - Примечания
Примечание Авт. указаны на с. 5-8
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр. в конце глав.
504 ## - Библиография
Библиография Предметный указ.: с. 574-582
504 ## - Библиография
Библиография Слов. наиболее часто использ. аббревиатур: с. 17-18
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова растровая электронная микроскопия
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова растровые электронные микроскопы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова получение изображений
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова нанотехнологии
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова наноматериалы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова исследование наноструктур
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова дифракция отраженных электронов, метод
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова рентгеновский микроанализ
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова моделирование наноматериалов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова Монте-Карло метод.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова растровая электронная микроскопия низковольтная
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова электронно-лучевая нанолитография
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова растровая электронная микроскопия просвечивающая
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова конструирование наноматериалов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова наноманипулирование in situ
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова ионные пучки фокусированные
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова нанопроволоки полупроводниковые
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова нанотрубки полупроводниковые
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова фотонные кристаллы.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова наночастицы.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова самосборки коллоидные
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова полупроводники наноструктурные
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова 3D коллоидные кристаллы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова наноблоки
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова наноструктуры одномерные
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова бионаноматериалы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова наноструктурные исследования низкотемпературные
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова растровая электронная микроскопия низкотемпературная
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Андерхальт, Роберт
9 (RLIN) 115036
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Анзалоне, Поль
9 (RLIN) 115037
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Апкариан, П. Роберт
9 (RLIN) 115038
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Жу, Уэйли
Код отношения edt
9 (RLIN) 115039
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Уанг, Жонг Лин
Код отношения edt
9 (RLIN) 115040
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Каминская, Татьяна Петровна
Код отношения edt
9 (RLIN) 115041
852 4# - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
Полочный индекс 621.3
Авторский знак Р245
Код страны ru
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 8555
Holdings
Не выдается Отсутствует на месте Поврежден Исходное место хранения Местоположение Дата поступления Цена Всего выдач Расстановочный шифр Штрих-код Класс экземпляра
      Научная библиотека ТГУ Читальный зал 5 02/04/2021 1320.00   621.3 Р245 13820000936996 Выдается по месту хранения