Normal view
MARC view
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий (Record no. 8555)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 03799nam a2200673 c 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000547486 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20221018081209.0 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 160922s2016 ru a f b 001 0 rus d |
020 ## - Индекс ISBN | |
ISBN | 9785996311101 |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | to000547486 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | rus |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 621.385.833:620.22-022.532 |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 537.533.35 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий |
Продолж. заглавия | методы и применение |
Ответственность | [Роберт Андерхальт, Поль Анзалоне, П. Роберт Апкариан и др.] ; под ред. Уэйли Жу и Жонг Лин Уанга ; пер. с англ. С. А. Иванова и К. И. Домкина ; под ред. Т. П. Каминской |
246 11 - Заглавие тома/части | |
Заглавие тома/части | Scanning Microscopy for Nanotechnology |
260 ## - Выходные данные | |
Место издания | Москва |
Издательство | БИНОМ. Лаборатория знаний |
Дата издания | 2016 |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | 582 с., [8] л. цв. ил. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | ил., табл. |
500 ## - Примечания | |
Примечание | Авт. указаны на с. 5-8 |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Библиогр. в конце глав. |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Предметный указ.: с. 574-582 |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Слов. наиболее часто использ. аббревиатур: с. 17-18 |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | растровая электронная микроскопия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | растровые электронные микроскопы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | получение изображений |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | нанотехнологии |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | наноматериалы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | исследование наноструктур |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | дифракция отраженных электронов, метод |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | рентгеновский микроанализ |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | моделирование наноматериалов |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | Монте-Карло метод. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | растровая электронная микроскопия низковольтная |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | электронно-лучевая нанолитография |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | растровая электронная микроскопия просвечивающая |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | конструирование наноматериалов |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | наноманипулирование in situ |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | ионные пучки фокусированные |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | нанопроволоки полупроводниковые |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | нанотрубки полупроводниковые |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | фотонные кристаллы. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | наночастицы. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | самосборки коллоидные |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | полупроводники наноструктурные |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | 3D коллоидные кристаллы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | наноблоки |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | наноструктуры одномерные |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | бионаноматериалы |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | наноструктурные исследования низкотемпературные |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | растровая электронная микроскопия низкотемпературная |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Андерхальт, Роберт |
9 (RLIN) | 115036 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Анзалоне, Поль |
9 (RLIN) | 115037 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Апкариан, П. Роберт |
9 (RLIN) | 115038 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Жу, Уэйли |
Код отношения | edt |
9 (RLIN) | 115039 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Уанг, Жонг Лин |
Код отношения | edt |
9 (RLIN) | 115040 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Каминская, Татьяна Петровна |
Код отношения | edt |
9 (RLIN) | 115041 |
852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
Полочный индекс | 621.3 |
Авторский знак | Р245 |
Код страны | ru |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 8555 |
Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Класс экземпляра |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Научная библиотека ТГУ | Читальный зал 5 | 02/04/2021 | 1320.00 | 621.3 Р245 | 13820000936996 | Выдается по месту хранения |