Normal view
MARC view
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова
Material type: TextSeries: Физика полупроводников и полупроводниковых приборовPublication details: М. Наука 1981Description: 368 с. ил. 20 смSubject(s): Полупроводники - ДефектыItem type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
---|---|---|---|---|---|---|---|
1 месяц | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-428329 (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | 13820000212067 |
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.