Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Image from Google Jackets
Normal view MARC view

Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова

By: Вавилов, Виктор СергеевичContributor(s): Кив, Арик Ефимович | Ниязова, Озод РахимовнаMaterial type: TextTextSeries: Физика полупроводников и полупроводниковых приборовPublication details: М. Наука 1981Description: 368 с. ил. 20 смSubject(s): Полупроводники - Дефекты
Tags from this library: No tags from this library for this title. Log in to add tags.
Holdings
Item type Current library Call number Copy number Status Date due Barcode
1 месяц Научная библиотека ТГУ Книгохранилище 1-428329 (Browse shelf(Opens below)) 1 Available 13820000212067

There are no comments on this title.

to post a comment.