Normal view
MARC view
Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках (Record no. 84115)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 01286nam a2200253 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000083280 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20210909190537.0 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 120826s1981 __ 00| | rus|d |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | 0086-48760 |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | (RU-ToGU)ru81-064847 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | rus |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
Организация, изменившая запись | RU-ToGU |
Правила каталог. | PSBO |
080 ## - Индекс УДК | |
Индекс УДК | 537.311.322:548.4 |
100 1# - Автор | |
Автор | Вавилов, Виктор Сергеевич. |
9 (RLIN) | 178067 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках |
Ответственность | В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова |
260 ## - Выходные данные | |
Место издания | М. |
Издательство | Наука |
Дата издания | 1981 |
300 ## - Физическое описание | |
Объем | 368 с. |
Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
Размеры | 20 см. |
490 10 - Серия | |
Заглавие серии | Физика полупроводников и полупроводниковых приборов |
650 #7 - Тематические рубрики | |
Основная рубрика | Полупроводники - Дефекты. |
Источник рубрики | rurkp |
9 (RLIN) | 178068 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Кив, Арик Ефимович. |
9 (RLIN) | 178069 |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Ниязова, Озод Рахимовна. |
9 (RLIN) | 178070 |
830 ## - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие | |
Унифицированное заглавие | Физика полупроводников и полупроводниковых приборов |
9 (RLIN) | 166495 |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 84115 |
Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Номер копии | Класс экземпляра |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 03/04/2021 | 2.90 | 1-428329 | 13820000212067 | 1 | 1 месяц |