Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Физические основы метрологии полупроводниковых фотоматериалов и тестирование сложных соединений на основе арсенида галлия (Record no. 655997)

MARC details
000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 01334naa a2200241 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле koha000655997
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 210630s1999 ru f 10 0 rus d
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер koha000655997
039 ## - История создания и изменения записи
Создание записи 26
Последнее изменение записи 26
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
100 1# - Автор
Ф.И.О. Юрченко, Алексей Васильевич
9 (RLIN) 70471
245 10 - Заглавие
Заглавие Физические основы метрологии полупроводниковых фотоматериалов и тестирование сложных соединений на основе арсенида галлия
Ответственность А. В. Юрченко, В. И. Юрченко
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: 1 назв.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова арсенид галлия
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова полупроводниковое материалы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова солнечные элементы
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова метрология фотоматериалов
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова труды ученых ТГУ
700 1# - Другие авторы
9 (RLIN) 218992
Другие авторы Юрченко, Василий Иванович
773 0# - Источник информации
Название источника Материалы седьмой российской конференции "Арсенид галлия" "GaAs-99", Томск, 21-23 октября, 1999 г. : посвящается 35-летию ФГУП "НИИПП
Место и дата издания Томск, 1999
Прочая информация С. 60-61
Контрольный № источника 0143-10460
852 #4 - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
Код страны ru
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных статья
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 655997

No items available.