Normal view
MARC view
Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом атомно-силовой микроскопии В. А. Новиков, Ю. Н. Назарчук
Material type:
ArticleSubject(s): физика полупроводников | физика диэлектриков | труды ученых ТГУ | атомно-силовая микроскопия | Шоттки барьер
In:
Физика твердого тела : сборник материалов XI Российской научной студенческой конференции, 13-15 мая 2008 г., Томск, Россия С. 203-206
No physical items for this record
Библиогр.: 6 назв.
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.