Normal view
MARC view
Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом атомно-силовой микроскопии (Record no. 361800)
[ view plain ]
000 -Маркер записи | |
---|---|
Контрольное поле постоянной длины | 01427naa a2200265 c 4500 |
001 - Контрольный номер | |
Контрольное поле | vtls000491841 |
005 - Дата корректировки | |
Контрольное поле | 20210404201210.0 |
008 - Кодируемые данные | |
Контрольное поле постоянной длины | 141030s2008 ru a f 100 0 rus d |
035 ## - Системный контрольный номер | |
Системный контрольный номер | to000491841 |
040 ## - Источник каталогиз. | |
Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
Код языка каталог. | rus |
Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
100 1# - Автор | |
Автор | Новиков, Вадим Александрович |
9 (RLIN) | 83069 |
245 10 - Заглавие | |
Заглавие | Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом атомно-силовой микроскопии |
Ответственность | В. А. Новиков, Ю. Н. Назарчук |
504 ## - Библиография | |
Библиография | Библиогр.: 6 назв. |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | физика полупроводников |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | физика диэлектриков |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | труды ученых ТГУ |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | атомно-силовая микроскопия |
653 ## - Ключевые слова | |
Ключевые слова | Шоттки барьер |
700 1# - Другие авторы | |
Другие авторы | Назарчук, Юлия Николаевна |
9 (RLIN) | 382455 |
773 0# - Источник информации | |
Название источника | Физика твердого тела : сборник материалов XI Российской научной студенческой конференции, 13-15 мая 2008 г., Томск, Россия |
Место и дата издания | Томск, 2008 |
Прочая информация | С. 203-206 |
ISBN | 5946212443 |
Контрольный № источника | to000471655 |
852 ## - Местонахождение единицы хранения | |
Код организации-хранителя | RU-ToGU |
908 ## - Параметр входа данных | |
Параметр входа данных | статья |
999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
biblionumber (Koha) | 361800 |
No items available.