Scientific Library of Tomsk State University

   E-catalog        

Normal view MARC view

Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом атомно-силовой микроскопии (Record no. 361800)

MARC details
000 -Маркер записи
Контрольное поле постоянной длины 01427naa a2200265 c 4500
001 - Контрольный номер
Контрольное поле vtls000491841
005 - Дата корректировки
Контрольное поле 20210404201210.0
008 - Кодируемые данные
Контрольное поле постоянной длины 141030s2008 ru a f 100 0 rus d
035 ## - Системный контрольный номер
Системный контрольный номер to000491841
040 ## - Источник каталогиз.
Служба первич. каталог. RU-ToGU
Код языка каталог. rus
Служба, преобразующая запись RU-ToGU
100 1# - Автор
Автор Новиков, Вадим Александрович
9 (RLIN) 83069
245 10 - Заглавие
Заглавие Исследование поверхностного потенциала полупроводниковых структур с барьером Шоттки методом атомно-силовой микроскопии
Ответственность В. А. Новиков, Ю. Н. Назарчук
504 ## - Библиография
Библиография Библиогр.: 6 назв.
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова физика полупроводников
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова физика диэлектриков
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова труды ученых ТГУ
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова атомно-силовая микроскопия
653 ## - Ключевые слова
Ключевые слова Шоттки барьер
700 1# - Другие авторы
Другие авторы Назарчук, Юлия Николаевна
9 (RLIN) 382455
773 0# - Источник информации
Название источника Физика твердого тела : сборник материалов XI Российской научной студенческой конференции, 13-15 мая 2008 г., Томск, Россия
Место и дата издания Томск, 2008
Прочая информация С. 203-206
ISBN 5946212443
Контрольный № источника to000471655
852 ## - Местонахождение единицы хранения
Код организации-хранителя RU-ToGU
908 ## - Параметр входа данных
Параметр входа данных статья
999 ## - Системные контрольные номера (Koha)
biblionumber (Koha) 361800

No items available.