Normal view
MARC view
Исследование дефектов структуры в тройном полупроводниковом соединении ZnGeP2 К. С. Титов
Material type: ArticleSubject(s): полупроводниковые соединения | параметрические генераторы света | Бриджмена метод | оптическая микроскопия | рентгеновская топография | дефекты структуры In: Физика : материалы XLVIII международной научной студенческой конференции "Студент и научно-технический прогресс", 10-14 апреля 2010 г С. 218No physical items for this record
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.