Normal view
MARC view
Исследование дефектов структуры в тройном полупроводниковом соединении ZnGeP2 (Record no. 326118)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 01267naa a2200253 i 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000442272 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20210404180918.0 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 130124s2010 ru f 100 0 rus d |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000442272 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Титов, Константин Сергеевич |
| 9 (RLIN) | 251785 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Исследование дефектов структуры в тройном полупроводниковом соединении ZnGeP2 |
| Ответственность | К. С. Титов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | полупроводниковые соединения |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | параметрические генераторы света |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | Бриджмена метод |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | оптическая микроскопия |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | рентгеновская топография |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дефекты структуры |
| 773 0# - Источник информации | |
| Название источника | Физика : материалы XLVIII международной научной студенческой конференции "Студент и научно-технический прогресс", 10-14 апреля 2010 г. |
| Место и дата издания | Новосибирск, 2010 |
| Прочая информация | С. 218 |
| Контрольный № источника | to000434216 |
| 852 ## - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| 908 ## - Параметр входа данных | |
| Параметр входа данных | статья |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 326118 |
No items available.