Normal view
MARC view
Измерения параметров полупроводниковых материалов Н. Ф. Ковтонюк, Ю. А. Концевой
Material type:
TextPublication details: Москва Металлургия 1970Description: 428, [1] с. илSubject(s): полупроводниковые материалы | физика полупроводников | качество полупроводниковых материалов | измерение параметров полупроводников | удельное сопротивление полупроводников | носители заряда полупроводников | эпитаксиальные пленки полупроводниковые | донорно-акцепторные примеси полупроводников | оптические свойства полупроводников | фотоэлектрические свойства полупроводников | дефекты полупроводниковых материалов | неоднородности полупроводниковых материалов | поверхностные свойства полупроводников | проводимость полупроводников | зонная структура полупроводников | СВЧ-измерения
| Item type | Current library | Call number | Copy number | Status | Date due | Barcode | |
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 6 месяцев | Научная библиотека ТГУ Абонемент | 621.3 К568 (Browse shelf(Opens below)) | Checked out | 14/04/2023 | 13820000782382 | ||
| Выдается в читальный зал | Научная библиотека ТГУ Книгохранилище | 1-028859к (Browse shelf(Opens below)) | 1 | Available | 13820000324496 |
Browsing Научная библиотека ТГУ shelves, Shelving location: Книгохранилище Close shelf browser (Hides shelf browser)
Библиогр.: с. 412-426
There are no comments on this title.
Log in to your account to post a comment.