Normal view
MARC view
Измерения параметров полупроводниковых материалов (Record no. 124298)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 02334nam a2200409 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000125005 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20210921220521.0 |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 020204s1970 ru a f b 000 0 rus |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | 0128-63060 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | RU-ToGU |
| Код языка каталог. | rus |
| Служба, преобразующая запись | RU-ToGU |
| Правила каталог. | PSBO |
| 080 ## - Индекс УДК | |
| Индекс УДК | 621.315.592.08 |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Ковтонюк, Николай Филиппович. |
| 9 (RLIN) | 209952 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | Измерения параметров полупроводниковых материалов |
| Ответственность | Н. Ф. Ковтонюк, Ю. А. Концевой |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Металлургия |
| Дата издания | 1970 |
| 300 ## - Физическое описание | |
| Объем | 428, [1] с. |
| Иллюстрации/тип воспроизводства | ил. |
| 504 ## - Библиография | |
| Библиография | Библиогр.: с. 412-426 |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | полупроводниковые материалы |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | физика полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | качество полупроводниковых материалов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | измерение параметров полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | удельное сопротивление полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | носители заряда полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | эпитаксиальные пленки полупроводниковые |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | донорно-акцепторные примеси полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | оптические свойства полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | фотоэлектрические свойства полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | дефекты полупроводниковых материалов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | неоднородности полупроводниковых материалов |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | поверхностные свойства полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | проводимость полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | зонная структура полупроводников |
| 653 ## - Ключевые слова | |
| Ключевые слова | СВЧ-измерения |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Концевой, Юлий Абрамович. |
| 9 (RLIN) | 209953 |
| 852 4# - Местонахождение единицы хранения | |
| Код организации-хранителя | RU-ToGU |
| Полочный индекс | 621.3 |
| Авторский знак | К568 |
| Код страны | ru |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 124298 |
| Не выдается | Отсутствует на месте | Поврежден | Исходное место хранения | Местоположение | Дата поступления | Цена | Инвентарный номер (дополнительно) | Всего выдач | Расстановочный шифр | Штрих-код | Дата окончания срока выдачи | Дата последней выдачи/возврата | Класс экземпляра | Номер копии |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Научная библиотека ТГУ | Абонемент | 03/04/2021 | 1.28 | 70.82443 | 2 | 621.3 К568 | 13820000782382 | 14/04/2023 | 30/09/2022 | 6 месяцев | ||||
| Научная библиотека ТГУ | Книгохранилище | 03/04/2021 | 1.28 | 1-028859к | 13820000324496 | Выдается в читальный зал | 1 |