Normal view
MARC view
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies (Record no. 233322)
[ view plain ]
| 000 -Маркер записи | |
|---|---|
| Контрольное поле постоянной длины | 01419nmm a22003375u 4500 |
| 001 - Контрольный номер | |
| Контрольное поле | vtls000356485 |
| 005 - Дата корректировки | |
| Контрольное поле | 20210922023643.0 |
| 007 - Кодируемые данные (физ. описан.) | |
| Контрольное поле постоянной длины | cr nn 008mamaa |
| 008 - Кодируемые данные | |
| Контрольное поле постоянной длины | 120828s2008 xx j eng d |
| 020 ## - Индекс ISBN | |
| ISBN | 9781402083631 |
| 035 ## - Системный контрольный номер | |
| Системный контрольный номер | to000356485 |
| 040 ## - Источник каталогиз. | |
| Служба первич. каталог. | Springer |
| Служба, преобразующая запись | Springer |
| Организация, изменившая запись | RU-ToGU |
| 100 1# - Автор | |
| Автор | Pavlov, Andrei. |
| 9 (RLIN) | 315829 |
| 245 10 - Заглавие | |
| Заглавие | CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies |
| Физический носитель | Электронный ресурс |
| Продолж. заглавия | Process-Aware SRAM Design and Test / |
| Ответственность | by Andrei Pavlov, Manoj Sachdev. |
| 260 ## - Выходные данные | |
| Место издания | Dordrecht : |
| Издательство | Springer Science + Business Media B.V, |
| Дата издания | 2008. |
| 490 10 - Серия | |
| Заглавие серии | Frontiers In Electronic Testing, |
| ISSN серии | 0929-1296 ; |
| № тома | 40 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | engineering |
| 9 (RLIN) | 224332 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Memory management (Computer science) |
| 9 (RLIN) | 306582 |
| 650 #0 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Systems engineering |
| 9 (RLIN) | 303074 |
| 650 14 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Engineering |
| 9 (RLIN) | 224332 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Circuits and Systems |
| 9 (RLIN) | 303075 |
| 650 24 - Тематические рубрики | |
| Основная рубрика | Memory Structures |
| 9 (RLIN) | 306583 |
| 700 1# - Другие авторы | |
| Другие авторы | Sachdev, Manoj. |
| 9 (RLIN) | 304697 |
| 710 2# - Другие организации | |
| Организация/юрисдикция | SpringerLink (Online service) |
| 9 (RLIN) | 143950 |
| 773 0# - Источник информации | |
| Название источника | Springer eBooks |
| 830 ## - Заголовок добавочной библ.записи на серию — унифицированное заглавие | |
| Унифицированное заглавие | Frontiers In Electronic Testing, |
| 9 (RLIN) | 303485 |
| 856 40 - Электронный адрес документа | |
| URL | <a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1">http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1</a> |
| 999 ## - Системные контрольные номера (Koha) | |
| biblionumber (Koha) | 233322 |
No items available.