000			02943nam a2200301 4500
001			koha000991710
006			m o
007			cr
008			230126d2007 RU s 00 0 rus
035			_akoha000991710
040			_aRU _brus _cRU _dRu-ToGu
080			_a620
084			_a30 _2rubbk
100	1		_aКларк, Э. Р.
245	1	0	_aМикроскопические методы исследования материалов _bмонография _cЭ. Р. Кларк, К. Н. Эберхард
260			_aМосква _bТехносфера _c2007
300			_a376 с.
500			_aКнига находится в премиум-версии IPR SMART.
520			_aЗа последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.
653			_aмикроскопические методы
653			_aисследование материалов
653			_aкомпьютерная микроскопия
653			_aмонография
700	1		_aЭберхард, К. Н.
856	4		_uhttps://www.iprbookshop.ru/12728.html _yЭБС IPR BOOKS
910			_aIPR Books
999			_c991710