| 000 | 01286nam a2200253 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | vtls000083280 | ||
| 003 | RU-ToGU | ||
| 005 | 20210909190537.0 | ||
| 008 | 120826s1981 __ 00| | rus|d | ||
| 035 | _a0086-48760 | ||
| 035 | _a(RU-ToGU)ru81-064847 | ||
| 040 |
_aRU-ToGU _brus _cRU-ToGU _dRU-ToGU _ePSBO |
||
| 080 | _a537.311.322:548.4 | ||
| 100 | 1 |
_aВавилов, Виктор Сергеевич. _9178067 |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aМеханизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках _cВ. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова |
| 260 |
_aМ. _bНаука _c1981 |
||
| 300 |
_a368 с. _bил. _c20 см. |
||
| 490 | 1 | 0 | _aФизика полупроводников и полупроводниковых приборов |
| 650 | 7 |
_aПолупроводники - Дефекты. _2rurkp _9178068 |
|
| 700 | 1 |
_aКив, Арик Ефимович. _9178069 |
|
| 700 | 1 |
_aНиязова, Озод Рахимовна. _9178070 |
|
| 830 |
_aФизика полупроводников и полупроводниковых приборов _9166495 |
||
| 999 | _c84115 | ||