000 02318nam a2200493 4500
001 vtls000073280
003 RU-ToGU
005 20210921201923.0
008 000622s1972 ru a f b 000 0 rus d
035 _a0076-30360
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
_ePSBO
041 1 _arus
_heng
080 _a631.326.7
100 1 _aЧжен, Г. Я.
_9170691
245 1 0 _aДиагностика отказов цифровых вычислительных систем
_bпер. с англ.
_cГ. Чжен, Е. Мэннинг, Г. Метц ; под ред. И. Б. Михайлова
246 1 1 _aFault diagnosisof digital systems
260 _aМ.
_bМир
_c1972
300 _a232 с.
_bил.
504 _aБиблиогр.: с. 224-230
653 _aвычислительные системы.
653 _aцифровые системы.
653 _aтесты.
653 _aтест-процедуры.
653 _aгенерирование тестов.
653 _aкомбинационные схемы.
653 _aпоследовательностные схемы.
653 _aминимизация тестов.
653 _aпоследовательный анализатор.
653 _aструктуры программ.
653 _aкомпилятор логики.
653 _aпрограмма хаффмен-анализа.
653 _aсамодиагностика вычислительных машин.
653 _aмоделирование неисправностей ЭВМ цифровое.
653 _aдиагностика неисправностей ЭВМ.
653 _aсловарь неисправностей ЭВМ.
653 _aсловарь точного соответствия ЭВМ.
653 _aсловарь неисправностей ЭВМ фазовый.
653 _aсловарь неисправностей ЭВМ гнездовой.
700 1 _aМэннинг, Е.
_9170692
700 1 _aМетц, Г.
_9170693
700 1 _aМихайлов, И. Б.
_4edt
_9170694
852 4 _aRU-ToGU
_h681.3
_iЧ-578
_nru
999 _c74826