000 01499naa a2200325 c 4500
001 koha000722143
005 20211124154843.0
008 211124s2002 ru f 100 0 eng d
035 _akoha000722143
039 _z26
_b26
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
245 1 0 _aComparative study of SI GaAs detectors with Schottky barriers and epitaxial hing-doped layers
_cE. Verbitskaya, T. J. Bowles, V. Eremin [et.al.]
504 _aБиблиогр.: 3 назв.
653 _aфизика полупроводников
653 _aполупроводники
653 _aполупроводниковые приборы
653 _aэпитаксиальные слои
653 _aарсенид галлия
653 _aШоттки барьер
653 _aдетекторы ионизирующей радиации
653 _aэкспериментальные исследования
653 _aполупроводниковые материалы
700 1 _9659336
_aVerbitskaya, E
700 _9570464
_aBowles, T. J
700 1 _9570465
_aEremin, V. K
773 0 _tВосьмая российская конференция "Арсенид галлия и полупроводниковые соединения группы III-V". GaAs-2002, 1-4 октября 2002 г. : материалы конференции
_dТомск, 2002
_gС. 263-265
_w0183-75860
852 4 _aRU-ToGU
_nru
908 _aстатья
942 _2udc
999 _c722143
_d722143