000			01693nam a2200349 4500
001			vtls000065986
003			RU-ToGU
005			20210921195919.0
008			000425s1972 ru a f b 000 0 rus d
035			_a0068-90660
040			_aRU-ToGU _brus _cRU-ToGU _ePSBO
080			_a539.216.2:537.311.322
080			_a681.3.01:535
245	1	0	_aИсследование свойств полупроводниковых пленок и методов обработки информации _cОтв. ред. У. М. Кулиш; Калмыцкий гос. ун-т
260			_aЭлиста _b[б. и.] _c1972
300			_a60 с.
504			_aБиблиогр. в конце статей
653			_aполупроводниковые пленки.
653			_aкорреляторы оптические.
653			_aинформация радиолокационная.
653			_aоптико-электронные корреляторы.
653			_aоптические фазовые детекторы.
653			_aфотокатоды.
653			_aсветовые потоки.
653			_aоптические вычислительные машины.
653			_aэпитаксия жидкостная.
653			_aэпитаксиальные пленки.
653			_aэпитаксиальный рост кристаллов.
700	1		_aКулиш, Ушер Меерович. _eред. _4edt _9162705
852	4		_aRU-ToGU _h1-268359 _i539.2 _nru
999			_c65619