000 | 01334naa a2200241 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | koha000655997 | ||
008 | 210630s1999 ru f 10 0 rus d | ||
035 | _akoha000655997 | ||
039 |
_z26 _b26 |
||
040 |
_aRU-ToGU _brus _cRU-ToGU |
||
100 | 1 |
_aЮрченко, Алексей Васильевич _970471 |
|
245 | 1 | 0 |
_aФизические основы метрологии полупроводниковых фотоматериалов и тестирование сложных соединений на основе арсенида галлия _cА. В. Юрченко, В. И. Юрченко |
504 | _aБиблиогр.: 1 назв. | ||
653 | _aарсенид галлия | ||
653 | _aполупроводниковое материалы | ||
653 | _aсолнечные элементы | ||
653 | _aметрология фотоматериалов | ||
653 | _aтруды ученых ТГУ | ||
700 | 1 |
_9218992 _aЮрченко, Василий Иванович |
|
773 | 0 |
_tМатериалы седьмой российской конференции "Арсенид галлия" "GaAs-99", Томск, 21-23 октября, 1999 г. : посвящается 35-летию ФГУП "НИИПП _dТомск, 1999 _gС. 60-61 _w0143-10460 |
|
852 | 4 |
_aRU-ToGU _nru |
|
908 | _aстатья | ||
999 |
_c655997 _d655997 |