000 01334naa a2200241 4500
001 koha000655997
008 210630s1999 ru f 10 0 rus d
035 _akoha000655997
039 _z26
_b26
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
100 1 _aЮрченко, Алексей Васильевич
_970471
245 1 0 _aФизические основы метрологии полупроводниковых фотоматериалов и тестирование сложных соединений на основе арсенида галлия
_cА. В. Юрченко, В. И. Юрченко
504 _aБиблиогр.: 1 назв.
653 _aарсенид галлия
653 _aполупроводниковое материалы
653 _aсолнечные элементы
653 _aметрология фотоматериалов
653 _aтруды ученых ТГУ
700 1 _9218992
_aЮрченко, Василий Иванович
773 0 _tМатериалы седьмой российской конференции "Арсенид галлия" "GaAs-99", Томск, 21-23 октября, 1999 г. : посвящается 35-летию ФГУП "НИИПП
_dТомск, 1999
_gС. 60-61
_w0143-10460
852 4 _aRU-ToGU
_nru
908 _aстатья
999 _c655997
_d655997