| 000 | 02537nam a2200481 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | vtls000001383 | ||
| 003 | RU-ToGU | ||
| 005 | 20210910080624.0 | ||
| 008 | 120826s1993 rur 000 0 rus d | ||
| 020 |
_a5020300187 _c100.00 |
||
| 035 | _a0001-46060 | ||
| 040 |
_aRU-ToGU _brus _cRU-ToGU _ePSBO |
||
| 080 | _a549.643.31:548.7 | ||
| 084 |
_a38.35.17 _2rugasnti |
||
| 245 | 1 | 0 |
_aПроблемы определения реальной структуры глауконитов и родственных тонкодисперсных филлосиликатов _cВ. А. Дриц, М. Ю. Каменева, Б. А. Сахаров и др. ; Отв. ред. Д. К. Архипенко |
| 260 |
_aНовосибирск _bНаука, Сиб. изд. фирма _c1993 |
||
| 300 |
_a197, [3] с., [4]л. _bил. |
||
| 490 | 1 | 0 |
_aТруды Института геологии и геофизики / Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние _vВып. 802 |
| 500 | _aАвт. указ. на обороте тит. л. | ||
| 504 | _aБиблиогр.: с. 189-198 | ||
| 653 | _aкристаллохимия. | ||
| 653 | _aслоистые минералы. | ||
| 653 | _aспектроскопия. | ||
| 653 | _aЯГР-спектры. | ||
| 653 | _aИК-спектры. | ||
| 653 | _aмоделирование структурное. | ||
| 653 | _aэлектронографический метод. | ||
| 653 | _aдифракция. | ||
| 653 | _aрентгеновские лучи. | ||
| 653 | _aдефекты кристаллические. | ||
| 653 | _aструктура кристаллическая. | ||
| 653 | _aфиллосиликаты тонкодисперсные. | ||
| 653 | _aглаукониты. | ||
| 653 | _aселадониты. | ||
| 700 | 1 |
_aДриц, Виктор Анатольевич. _9178260 |
|
| 700 | 1 |
_aКаменева, Маргарита Юрьевна. _9548213 |
|
| 700 | 1 |
_aСахаров, Борис Александрович. _9548214 |
|
| 700 | 1 |
_aАрхипенко, Д. К. _4edt _9548215 |
|
| 710 | 2 |
_aИнститут геологии и геофизики (Новосибирск) _955791 |
|
| 830 |
_aТруды Института геологии и геофизики / Рос. акад. наук, Сиб. отд-ние _955789 |
||
| 852 | 4 |
_aRU-ToGU _h1-802710к _i549 _nru |
|
| 999 | _c528892 | ||