000 | 05831nam a2201153 i 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | vtls000224609 | ||
003 | RU-ToGU | ||
005 | 20210909191028.0 | ||
008 | 070202s2006 ru a f b 001 0 rus | ||
017 |
_a06-57958 _bRuMoRKP |
||
020 | _a5020343552 | ||
035 | _a(RU-RKP)ru06-067450RKP | ||
040 |
_aRuMoRKP _brus _cRU-RKP _dRU-ToGU |
||
041 | 0 | _arus | |
080 | _a538.9 | ||
084 |
_a22.37 _2rubbkm |
||
245 | 1 | 0 |
_aВведение в физику поверхности _cК. Оура, В. Г. Лифшиц, А. А. Саранин [и др.; Рос. акад. наук, Дальневост. отд-ние, Ин-т автоматики и процессов упр.] |
246 | 1 | 1 | _aSurface science |
260 |
_aМ. _bНаука _c2006 |
||
300 |
_a490 с. _bил. _c25 см. |
||
504 | _aБиблиогр.: с. 464-481 | ||
555 | _aПредм. указ.: с. 482-490 | ||
650 | 7 |
_aПоверхностные явления _xФизика _2RuMoRKP _9523650 |
|
653 | _aкристаллография двумерная | ||
653 | _aкристаллические решетки двумерные | ||
653 | _aБраке кристаллические решетки двумерные | ||
653 | _aМиллера индексы | ||
653 | _aкристаллические плоскости | ||
653 | _aБриллюэна зона | ||
653 | _aструктура поверхности | ||
653 | _aвакуум сверхвысокий | ||
653 | _aвакуумная техника | ||
653 | _aчистые поверхности | ||
653 | _aнапыление в вакууме | ||
653 | _aдифракция электронов медленных | ||
653 | _aдифракция электронов быстрых | ||
653 | _aрентгеновская дифракция | ||
653 | _aповерхностный анализ | ||
653 | _aэлектронная дифракция просвечивающая | ||
653 | _aатомное рассеяние | ||
653 | _aфотоэлектронная дифракция | ||
653 | _aэлектронная оже-дифракция | ||
653 | _aоже-спектроскопия электронная | ||
653 | _aфотоэлектронная спектроскопия | ||
653 | _aспектроскопия характеристических потерь энергии электронами | ||
653 | _aспектроскопия рассеяния | ||
653 | _aионы медленные | ||
653 | _aсоударение частиц | ||
653 | _aканалирование | ||
653 | _aспектроскопия обратного рассеяния | ||
653 | _aспектроскопия рассеяния ионов | ||
653 | _aмасс-спектроскопия ионнов вторичных | ||
653 | _aэмиссионная микроскопия полевая | ||
653 | _aионная микроскопия полевая | ||
653 | _aэлектронная микроскопия просвечивающая | ||
653 | _aэлектронная микроскопия отражательная | ||
653 | _aэлектронная микроскопия сканирующая | ||
653 | _aсканирующая туннельная микроскопия | ||
653 | _aатомно-силовая микроскопия | ||
653 | _aмикроскопия электронов медленных | ||
653 | _aповерхности релаксированные | ||
653 | _aповерхности реконструированные | ||
653 | _aметаллы | ||
653 | _aграфит | ||
653 | _aполупроводники элементарные | ||
653 | _aполупроводники сложные | ||
653 | _aповерхности с адсорбатами | ||
653 | _aповерхностные фазы | ||
653 | _aсубмонослойные системы | ||
653 | _aадсорбат-подложка | ||
653 | _aфазовые диаграммы | ||
653 | _aдефекты поверхности структурные | ||
653 | _aповерхностные процессы элементарные | ||
653 | _aадсорбция | ||
653 | _aдесорбция термическая | ||
653 | _aповерхностная диффузия | ||
653 | _aуравнения поверхностных процессов | ||
653 | _aанизотропия | ||
653 | _aкластеры | ||
653 | _aповерхностная электромиграция | ||
653 | _aрост тонких пленок | ||
653 | _aгомоэпитаксия | ||
653 | _aгетероэпитаксия | ||
653 | _aэпитаксия молекулярно-лучевая | ||
653 | _aэпитаксия твердофазная | ||
653 | _aэпитаксия лучевая химическая | ||
653 | _aнаноструктуры | ||
653 | _aнанокристаллы | ||
653 | _aсамоорганизация наноструктур | ||
653 | _aфуллерены | ||
653 | _aуглеродные нанотрубки | ||
653 | _aфизика поверхности | ||
700 | 1 |
_aОура, Кендзиро _9523651 |
|
700 | 1 |
_aЛифшиц, Виктор Григорьевич _9222025 |
|
700 | 1 |
_aСаранин, Александр Александрович _9523652 |
|
852 | 4 |
_aRU-ToGU _h538.9 _iВ24 _nru |
|
920 |
_a5-02-034355-2 _bв пер. _9400 экз. |
||
999 | _c496565 |