000 01611naa a2200265 c 4500
001 vtls000631104
003 RU-ToGU
005 20210405100929.0
008 180705s2002 ru f 100 0 rus d
035 _ato000631104
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
100 1 _aНовиков, А. С.
_9485216
245 1 0 _aРазработка алгоритмов функционального тестирования ОЗУ ЭВМ
_cА. С. Новиков, С. Г. Шаршунов
504 _aБиблиогр.: 3 назв.
653 _aновые информационные технологии
653 _aкомпьютерная безопасность
653 _aдиагностика ошибок
653 _aОЗУ
653 _aфункциональное тестирование
653 _aЭВМ
700 1 _aШаршунов, Сергей Георгиевич
_9222143
773 0 _tДоклады IV Всероссийской конференции с международным участием "Новые информационные технологии в исследовании сложных структур" и Сибирской научной школы-семинара "Проблемы компьютерной безопасности" (Томск, ТГУ, 10-13 сентября 2002 г.)
_dТомск, 2002
_gС. 292-296
_kВестник Томского государственного университета. Приложение ; № 1 (II), Сентябрь 2002
_w0180-76760
908 _aстатья
999 _c438157