000 01732naa a2200313 c 4500
001 vtls000569896
003 RU-ToGU
005 20210922091903.0
007 cr |
008 170908s2016 ru fs 00000 rus dd
035 _ato000569896
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
100 1 _aПоливанова, Анна Сергеевна
_9274569
245 1 0 _aПрименение метода малых возмущений при измерении электромагнитных характеристик материалов
_cА. С. Поливанова
504 _aБиблиогр.: 4 назв.
653 _aтруды ученых ТГУ
653 _aметод малых возмущений
653 _aэлектромагнитные характеристики
653 _aновые материалы
653 _aфизические процессы
653 _aчисленное моделирование
655 4 _aстатьи в сборниках
_9713576
710 2 _aТомский государственный университет
_bРадиофизический факультет
_973741
773 0 _tНаука. Технологии. Инновации. Ч. 2 : сборник научных трудов, г. Новосибирск, 05-09 декабря 2016 г. : в 9 ч.
_dНовосибирск, 2016
_gЧ. 2. С. 133-135
_z9785778230842
_wto000563242
852 4 _aRU-ToGU
856 7 _uhttp://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000569896
908 _aстатья
999 _c422900