000			04723cam a2200829 i 4500
001			vtls000490268
003			RU-ToGU
005			20230119103639.0
008			141013s2012 ru a f b 000 0 rus|d
020			_a9785915222259
035			_a005572893
040			_aRuMoRKP _brus _ercr _dRuMoRGB _dRU-ToGU
041	1		_arus _heng
080			_a538.975-022.532:538.971
080			_a539.216.2-022.532:538.971
084			_aВ372.1-6,07 _2rubbk
084			_aЖ36-1с3,07 _2rubbk
100	1		_aАльфорд, Терри Л. _996544
245	1	0	_aФундаментальные основы анализа нанопленок _cТерри Л. Альфорд, Леонард К. Фельдман, Джеймс В. Майер ; пер. с англ. А. Н. Образцов, М. А. Долганов ; науч. ред. рус. изд. А. Н. Образцов ; Московский гос. ун-т им. М. В. Ломоносова, Науч.-образовательный центр по нанотехнологиям
246	1	1	_aFundamentals of nanoscale film analysis
260			_aМосква _bНаучный мир _c2012
300			_a390 с. _bил. _c25 см
490	1		_aФундаментальные основы нанотехнологий : лучшие зарубежные учебники
504			_aБиблиогр. в конце гл.
650		7	_aТонкие пленки _xСтруктура _2nlr_sh1 _9419416
653			_aнанопленки
653			_aструктурный анализ
653			_aнаноповерхности
653			_aповерхности наноматериалов
653			_aнаноматериалы
653			_aкристаллические решетки
653			_aатомные столкновения
653			_aобратное рассеяние
653			_aспектрометрия обратного рассеяния
653			_aвзаимодействие излучения с веществом
653			_aвзаимодействие частиц с веществом
653			_aионная имплантация
653			_aэлектронные пучки
653			_aлазерное излучение
653			_aрадиационно-стимулированные поверхности тонких пленок
653			_aлазерно-стимулированные поверхности тонких пленок
653			_aмодификация тонких пленок
653			_aионная бомбардировка
653			_aмас-спектроскопия ионов вторичных
653			_aканалирование ионов
653			_aпримеси в кристаллической решетке
653			_aповерхностное взаимодействие в двухатомной модели
653			_aэпитаксиальный рост пленок
653			_aэлектрон-электронные взаимодействия
653			_aэлектронная микроскопия
653			_aплазмоны
653			_aтормозное излучение
653			_aдифракция рентгеновских лучей
653			_aтонкие пленки поликристаллические
653			_aдифракция электронов
653			_aпоглощение фотонов в твердых телах
653			_aрентгеновская спектроскопия поглощения тонкой структуры
653			_aрентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
653			_aизлучательные переходы
653			_aэлектронный микроанализ
653			_aбезызлучательные переходы
653			_aОже-электронная спектроскопия
653			_aядерные методики анализа
653			_aсканирующая зондовая микроскопия
653			_aаналитические технологии нанопленок
700	1		_aФельдман, Леонард К. _9419417
700	1		_aМайер, Джеймс В. _d1930- _9419418
700	1		_aОбразцов, А. Н. _4edt _9419419
830		0	_aФундаментальные основы нанотехнологий : лучшие зарубежные учебники _9283410
852	4		_aRU-ToGU _h538.9 _iА593 _nru
999			_c361148