000 01933nab a2200325 c 4500
001 vtls000451683
003 RU-ToGU
005 20220913133305.0
007 cr |
008 170612 2012 ru s c rus d
035 _ato000451683
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
245 1 0 _aРазработка метода испытания электронных плат с чипами с BGA- и CGA-корпусами на механические воздействия и устройства для его осуществления
_cА. В. Азин, Н. Н. Марицкий, С. В. Пономарев и др.
504 _aБиблиогр.: 2 назв.
653 _aтермомеханический анализ
653 _aBGA-контакты
653 _aCGA-контакты
655 4 _aстатьи в журналах
_9681159
700 1 _aМарицкий, Николай Николаевич
_982359
700 1 _aПономарев, Сергей Александрович
_992544
700 1 _aСунцов, Сергей Борисович
_9564980
700 1 _aАзин, Антон Владимирович
_9564981
700 1 _aПономарев, Сергей Васильевич
_cдоктор физ.-мат. наук
_9563100
710 2 _aТомский государственный университет
_bНИИ прикладной математики и механики
_bНаучные подразделения НИИ ПММ
_9113601
773 0 _tИзвестия высших учебных заведений. Физика
_d2012
_gТ. 55, № 9/3. С. 3-7
_x0021-3411
_w0026-80960
852 4 _aRU-ToGU
856 7 _uhttp://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000451683
908 _aстатья
999 _c333895