000 | 01933nab a2200325 c 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | vtls000451683 | ||
003 | RU-ToGU | ||
005 | 20220913133305.0 | ||
007 | cr | | ||
008 | 170612 2012 ru s c rus d | ||
035 | _ato000451683 | ||
040 |
_aRU-ToGU _brus _cRU-ToGU |
||
245 | 1 | 0 |
_aРазработка метода испытания электронных плат с чипами с BGA- и CGA-корпусами на механические воздействия и устройства для его осуществления _cА. В. Азин, Н. Н. Марицкий, С. В. Пономарев и др. |
504 | _aБиблиогр.: 2 назв. | ||
653 | _aтермомеханический анализ | ||
653 | _aBGA-контакты | ||
653 | _aCGA-контакты | ||
655 | 4 |
_aстатьи в журналах _9681159 |
|
700 | 1 |
_aМарицкий, Николай Николаевич _982359 |
|
700 | 1 |
_aПономарев, Сергей Александрович _992544 |
|
700 | 1 |
_aСунцов, Сергей Борисович _9564980 |
|
700 | 1 |
_aАзин, Антон Владимирович _9564981 |
|
700 | 1 |
_aПономарев, Сергей Васильевич _cдоктор физ.-мат. наук _9563100 |
|
710 | 2 |
_aТомский государственный университет _bНИИ прикладной математики и механики _bНаучные подразделения НИИ ПММ _9113601 |
|
773 | 0 |
_tИзвестия высших учебных заведений. Физика _d2012 _gТ. 55, № 9/3. С. 3-7 _x0021-3411 _w0026-80960 |
|
852 | 4 | _aRU-ToGU | |
856 | 7 | _uhttp://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000451683 | |
908 | _aстатья | ||
999 | _c333895 |