000 01359naa a2200277 4500
001 vtls000418807
003 RU-ToGU
005 20210404141400.0
008 120109s2006 ru f 100 0 rus d
035 _ato000418807
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
080 _a537.311.322:546.681'191.1
080 _a621.315.592:546.681'191.1
245 1 0 _aИсследование дефектов структуры в полупроводниках A3B5 методом позитронной аннигиляционной спектроскопии
_cВ. И. Графутин, О. В. Илюхина, В. В. Калугин и др.
504 _aБиблиогр.: 5 назв.
653 _aаннигиляция
653 _aполупроводники
653 _aмонокристаллы кремния
700 1 _aГрафутин, В. И.
_9212174
700 1 _aИлюхина, О. В.
_9212175
700 1 _aКалугин, В. В.
_9379179
773 0 _tДевятая конференция "Арсенид галлия и полупроводниковые соединения группы III-V", 3-5 октября 2006 г., Томск, Россия : материалы конференции
_dТомск, 2006
_gС. 92-95
_wto000223791
852 _aRU-ToGU
908 _aстатья
999 _c308361