000 01821nab a2200325 c 4500
001 vtls000470103
003 RU-ToGU
005 20211022172939.0
007 cr |
008 170612s2013 ru s c rus d
035 _ato000470103
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
100 1 _aРусинов, Игорь Павлович
_991289
245 1 0 _aВлияние многочастичных эффектов на ширину энергетической щели в топологических изоляторах Bi2Te2X (X = Te, Se, S)
_cИ. П. Русинов, И. А. Нечаев, Е. В. Чулков
504 _aБиблиогр.: 33 назв.
653 _aтопологические изоляторы
653 _aтеллурид висмута
653 _aэнергетические щели
653 _aтеория функционала плотности
653 _aхалькогениды
655 4 _aстатьи в журналах
_9681159
700 1 _aНечаев, Илья Александрович
_964585
700 1 _aЧулков, Евгений Владимирович
_985951
710 2 _aТомский государственный университет
_bФизический факультет
_bНаучные подразделения ФФ
_9107954
773 0 _tПисьма в журнал экспериментальной и теоретической физики
_d2013
_gТ. 98, вып. 7. С. 452-458
_x0370-274X
_w0028-69960
852 4 _aRU-ToGU
856 7 _uhttp://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000470103
908 _aстатья
999 _c278168