000 | 01237naa a2200265 i 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | vtls000792472 | ||
003 | RU-ToGU | ||
005 | 20210403192851.0 | ||
008 | 210125s2000 ru f 100 0 rus d | ||
035 | _ato000792472 | ||
040 |
_aRU-ToGU _brus _cRU-ToGU |
||
100 | 1 |
_aЕршов, Е. В. _9293193 |
|
245 | 1 | 0 |
_aАнализ влияния температуры на свойства электронной подсистемы интерметаллических соединений _cЕ. В. Ершов |
653 | _aфизика металлов | ||
653 | _aэкспериментальные исследования | ||
653 | _aинтерметаллические соединения | ||
653 | _aэлектронная структура соединений | ||
653 | _aтемпература | ||
653 | _aпереходные металлы | ||
653 | _aтруды ученых ТГУ | ||
773 | 0 |
_tФизика твердого тела : материалы VII Российской научной студенческой конференции, 16-18 мая 2000 г. _dТомск, 2000 _gС. 22-23 _w0143-13660 |
|
852 | 4 | _aRu-ToGU | |
908 | _aстатья | ||
999 | _c214952 |