000 02053nam a2200385 4500
001 vtls000173578
003 RU-ToGU
005 20210922000630.0
008 120827s1983 ru a f b 000 0 rus d
035 _a0177-95960
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
_ePSBO
080 _a539.216.2:539.216.2:548.4
245 1 0 _aМетоды контроля макродефектов диэлектрических покрытий
_b(По данным отечественной и зарубежной печати за 1970-1982 гг. )
_cИ. С. Суровцев, Г. А. Кузнецова, С. С. Булгаков, В. Ф. Сыноров
260 _aМ.
_bЭлектроника
_c1983
300 _a51, [1] с.
_bрис.
490 1 0 _aОбзоры по электронной технике
_nСерия 3. "Микроэлектроника"
_vВып. 3 (947)
504 _aБиблиогр.: с. 45-51
653 _aдиэлектрические пленки.
653 _aтонкие пленки.
653 _aдвуокись кремния.
653 _aпланарная технология.
653 _aпористость.
653 _aмакродефекты сквозные.
653 _aтермическое окисление.
653 _aдиффузия.
653 _aэпитаксия.
653 _aметоды контроля.
700 1 _aСуровцев, Игорь Степанович.
_9129788
700 1 _aКузнецова, Галина Алексеевна.
_9257625
700 1 _aБулгаков, Станислав Сергеевич.
_9225224
700 1 _aСыноров, Владимир Федорович.
_9170102
830 _aОбзоры по электронной технике
_nСерия 3. "Микроэлектроника"
_9257626
852 4 _aRU-ToGU
_h1-515598
_i539
_nru
999 _c175752