000 | 01035nam a2200229 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | vtls000139915 | ||
003 | RU-ToGU | ||
005 | 20210921223732.0 | ||
008 | 950720s1985 __ 00| | rus d | ||
035 | _a0143-76060 | ||
035 | _a(RU-ToGU)ru86-001409 | ||
040 |
_aRKP _brus _cRU-ToGU _dRU-ToGU _ePSBO |
||
080 | _a537.311.322:548.4 | ||
084 |
_a29.19 _2rugasnti |
||
100 | 1 |
_aМильвидский, Михаил Григорьевич. _9221844 |
|
245 | 1 | 0 |
_aСтруктурные дефекты в эпитаксиальных слоях полупроводников _cМ. Г. Мильвидский, В. Б. Освенский |
260 |
_aМ. _bМеталлургия _c1985 |
||
300 |
_a159 с. _bил. _c21 см |
||
650 | 7 |
_aПолупроводники - Дефекты. _2rurkp _9178068 |
|
700 | 1 |
_aОсвенский, Владимир Борисович. _9221845 |
|
999 | _c139173 |