000 02334nam a2200409 4500
001 vtls000125005
003 RU-ToGU
005 20210921220521.0
008 020204s1970 ru a f b 000 0 rus
035 _a0128-63060
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
_ePSBO
080 _a621.315.592.08
100 1 _aКовтонюк, Николай Филиппович.
_9209952
245 1 0 _aИзмерения параметров полупроводниковых материалов
_cН. Ф. Ковтонюк, Ю. А. Концевой
260 _aМосква
_bМеталлургия
_c1970
300 _a428, [1] с.
_bил.
504 _aБиблиогр.: с. 412-426
653 _aполупроводниковые материалы
653 _aфизика полупроводников
653 _aкачество полупроводниковых материалов
653 _aизмерение параметров полупроводников
653 _aудельное сопротивление полупроводников
653 _aносители заряда полупроводников
653 _aэпитаксиальные пленки полупроводниковые
653 _aдонорно-акцепторные примеси полупроводников
653 _aоптические свойства полупроводников
653 _aфотоэлектрические свойства полупроводников
653 _aдефекты полупроводниковых материалов
653 _aнеоднородности полупроводниковых материалов
653 _aповерхностные свойства полупроводников
653 _aпроводимость полупроводников
653 _aзонная структура полупроводников
653 _aСВЧ-измерения
700 1 _aКонцевой, Юлий Абрамович.
_9209953
852 4 _aRU-ToGU
_h621.3
_iК568
_nru
999 _c124298