| 000 | 01218nam a2200253 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | vtls000122085 | ||
| 003 | RU-ToGU | ||
| 005 | 20210909190437.0 | ||
| 008 | 120826c19869999__ 00| | rus d | ||
| 035 | _a0125-68760 | ||
| 035 | _a(RU-ToGU)ru86-052632 | ||
| 040 |
_aRKP _brus _cRU-ToGU _dRU-ToGU _ePSBO |
||
| 080 | _a548.4:621.373.826 | ||
| 084 |
_a29.19 _2rugasnti |
||
| 245 | 1 | 0 |
_aЛазерные методы исследований дефектов в полупроводниках и диэлектриках _cОтв. ред. А. А. Маненков |
| 260 |
_aМ. _bНаука _c1986 |
||
| 300 |
_a152,[1] с. _bил. _c24 см |
||
| 490 | 1 | 0 |
_aТр. ИОФАН / АН СССР, Ин-т общ. физики _vТ. 4 |
| 504 | _aБиблиогр. в конце ст. | ||
| 650 | 7 |
_aПолупроводники - Дефекты - Исследование. _2rurkp _9208017 |
|
| 650 | 7 |
_aДиэлектрики - Дефекты - Исследование. _2rurkp _9208018 |
|
| 700 | 1 |
_aМаненков, А. А. _eредактор _4edt _9208019 |
|
| 999 | _c121832 | ||