000 | 01878nam a2200301 i 4500 | ||
---|---|---|---|
001 | vtls000419527 | ||
003 | RU-ToGU | ||
005 | 20210921213418.0 | ||
008 | 120120s1975 ru a b 000 0 rus d | ||
035 | _ato000419527 | ||
040 |
_aRU-ToGU _brus _cRU-ToGU |
||
080 | _a621.315.592.08(075.8) | ||
100 | 1 |
_aПавлов, Лев Павлович. _9198760 |
|
245 | 1 | 0 |
_aМетоды определения основных параметров полупроводниковых материалов _b[учебное пособие для вузов по специальности "Полупроводниковые приборы"] _cЛ. П. Павлов |
260 |
_aМосква _bВысшая школа _c1975 |
||
300 |
_a205, [1] с. _bил. |
||
504 | _aБиблиогр.: с. 202 | ||
653 | _aучебные пособия для вузов | ||
653 | _aполупроводниковые материалы | ||
653 | _aизмерение удельной электрической проводимости полупроводников | ||
653 | _aизмерение эффекта Холла полупроводников | ||
653 | _aизмерение параметров неравновесных носителей заряда полупроводников | ||
653 | _aизмерение фотопроводимости полупроводников | ||
653 | _aизмерение фотомагнитоэлектрического эффекта полупроводников | ||
653 | _aизмерение поверхностных характеристик полупроводников | ||
852 | 4 |
_aRU-ToGU _h621.3 _iП121 _nru |
|
999 | _c109780 |