000 01878nam a2200301 i 4500
001 vtls000419527
003 RU-ToGU
005 20210921213418.0
008 120120s1975 ru a b 000 0 rus d
035 _ato000419527
040 _aRU-ToGU
_brus
_cRU-ToGU
080 _a621.315.592.08(075.8)
100 1 _aПавлов, Лев Павлович.
_9198760
245 1 0 _aМетоды определения основных параметров полупроводниковых материалов
_b[учебное пособие для вузов по специальности "Полупроводниковые приборы"]
_cЛ. П. Павлов
260 _aМосква
_bВысшая школа
_c1975
300 _a205, [1] с.
_bил.
504 _aБиблиогр.: с. 202
653 _aучебные пособия для вузов
653 _aполупроводниковые материалы
653 _aизмерение удельной электрической проводимости полупроводников
653 _aизмерение эффекта Холла полупроводников
653 _aизмерение параметров неравновесных носителей заряда полупроводников
653 _aизмерение фотопроводимости полупроводников
653 _aизмерение фотомагнитоэлектрического эффекта полупроводников
653 _aизмерение поверхностных характеристик полупроводников
852 4 _aRU-ToGU
_h621.3
_iП121
_nru
999 _c109780