Your search returned 2 results.

Results
	1.	Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения [учебное пособие для вузов по направлениям "Металлургия" и "Физическое материаловедение"] М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др ; под общ. ред. М. М. Криштала] by Криштал, Михаил Михайлович \| Ясников, Игорь Станиславович \| Полунин, Виктор Иванович. Series: Мир физики и техникиMaterial type: Text; Format: print ; Literary form: Not fiction Language: Russian Publication details: Москва Техносфера 2009Availability: No items available : Place hold Log in to add tags Add to cart (remove)
	2.	Введение в нанотехнологию Н. Кобаяси ; пер. с яп. А. В. Хачояна ; под ред. Л. Н. Патрикеева by Кобаяси, Наоя. Series: НанотехнологияMaterial type: Text; Format: print ; Literary form: Not fiction Language: Russian Publication details: М. БИНОМ. Лаб. знаний 2007Availability: No items available : Place hold Log in to add tags Add to cart (remove)

E-catalog