Refine your search
Availability
-
bib-level
-
Authors
- Akiyama, Eiji (1)
- Chumlyakov, Yuri I. (1)
- Kireeva, Irina V. (1)
- Koyama, Motomichi (1)
- Ogawa, Kazuyuki (1)
- Sawaguchi, Takahiro (1)
- Tsuzaki, Kaneaki (1)
- Баженов, Сергей Леонидович (1)
- Боровский, Игорь Борисович (1)
- Брандон, Дэвид (1)
- Гаранин, Виктор Константинович (1)
- Егорова, О. В. (1)
- Каплан, У. (1)
- Кудрявцева, Галина Петровна (1)
- Морис, Ф. (1)
- Нан Яо (1)
- Новиков, Ю. А. (1)
- Сергеев, Алексей Георгиевич (3)
- Филибер, Ж. (1)
- Чжун Лин Ван (1)
- Show more
- Show less
-
Locations
- Абонемент. Депозитарий (3)
- Библиотека РФФ (1)
- Книгохранилище (8)
-
Item types
- 1 месяц (2)
- 6 месяцев (3)
- Выдается в читальный зал (8)
-
Topics
- Метрологическое обеспечение (2)
- Нанотехнологии (3)
- атомно-силовая микроскопия (2)
- атомно-силовые микроскопы зондовые измерительные (2)
- интерференционные измерения (2)
- калибровка (нанометрология) (2)
- микроскопия ближнепольная (2)
- наноизмерения (4)
- наноиндустрия (2)
- нанометрологическое оборудование (2)
- нанометрология (3)
- неопределенность наноизмерений (3)
- нестабильность наноизмерений (2)
- оптическая микроскопия (3)
- поверка нанометрологического оборудования (2)
- полупроводники (2)
- сертификация наноиндустрии (2)
- сканирующая зондовая микроскопия (3)
- электронная микроскопия (5)
- электронные микроскопы растровые (5)
- Show more
- Show less