Refine your search
Availability
-
bib-level
- m (3)
-
Authors
-
Locations
- Абонемент. Депозитарий (3)
- Библиотека РФФ (1)
- Книгохранилище (3)
-
Item types
- 6 месяцев (3)
- Выдается в читальный зал (3)
-
Topics
- Метрологическое обеспечение (2)
- Нанотехнологии (2)
- атомно-силовые микроскопы зондовые измерительные (2)
- интерференционные измерения (2)
- калибровка (нанометрология) (2)
- микроскопия ближнепольная (2)
- наноизмерения (3)
- наноиндустрия (2)
- нанометрологическое оборудование (2)
- нанометрология (2)
- неопределенность наноизмерений (3)
- нестабильность наноизмерений (2)
- оптическая микроскопия (2)
- поверка нанометрологического оборудования (2)
- сертификация наноиндустрии (3)
- сканирующая зондовая микроскопия (3)
- спектроскопия наноматериалов (2)
- стандартизация наноиндустрии (3)
- точность наноизмерений (2)
- электронные микроскопы растровые измерительные (3)
- Show more
- Show less