Refine your search
Availability
-
bib-level
- m (2)
-
Authors
- Анашина, О. Д. (1)
- Андрюшечкин, С. Е. (1)
- Аневский, С. И. (1)
- Крутиков, В. Н. (1)
- Эгертон, Рэй Ф. (1)
-
Locations
- Абонемент. Депозитарий (1)
- Книгохранилище (1)
- Читальный зал 5 (1)
-
Item types
-
Topics
- "РОСНАНО", метрологический центр (1)
- Oxford Instruments, системы электронно-зондового микроанализа (1)
- взаимодействие электронов с веществом (1)
- дифракция пучков электронов (1)
- единство измерений (1)
- зондовые микроскопы (1)
- интерферометрические измерения (1)
- микроскопия (1)
- наноизмерения (1)
- наноматериалы оптические (1)
- наноматериалы, исследования электронномикроскопические (1)
- наноматериалы, метрологическое обеспечение (1)
- нанометрология (1)
- нанопорошки металлов, термохимические измерения (1)
- нанорельеф поверхности (1)
- наноструктуры многослойные, формирование (1)
- нанотехнологии адресной доставки лекарств (1)
- нанотехнологии в России (1)
- нанотехнологии зарубежные (1)
- нанотехнологии, стандартизация (2)
- Show more
- Show less